Testes Circuitos Integrados
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25. Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico
O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando fa
Publicado em: 2007
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26. Um Estudo de técnicas de aceleração para algoritmos de análise de timing funcional baseados em geração automática de teste
Este trabalho tem como objetivo estudar e avaliar técnicas para a aceleração de algoritmos de análise de timing funcional (FTA - Functional Timing Analysis) baseados em geração automática de testes (ATPG – Automatic Test Generation). Para tanto, são abordados três algoritmos conhecidos : algoritmo-D, o PODEM e o FAN. Após a análise dos algoritmo
Publicado em: 2007
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27. Verificação de equivalência de circuitos com aceleração por largura e aprendizado de cláusulas de conflito
Equivalence checking (EQ) is a very common formal verification method used in the semiconductor industry. It makes possible to verify if two different implementation of the same design have the same functional behavior which is very useful to make sure that the design still behaves correctly after optimizations (like retiming) or synthesis. Several known met
Publicado em: 2007
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28. Um microprocessador com capacidades analógicas
Este trabalho apresenta um estudo, implementação e simulação de geradores de sinais analógicos usando-se circuitos digitais, em forma de CORE, integrando-se este com o microprocessador Risco. As principais características procuradas no gerador de sinais são: facilidade de implementação em silício, programabilidade tanto em freqüência quanto em am
Publicado em: 2007
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29. Planejamento de teste de sistemas baseados em núcleos de hardware de sinal misto usando bist
Atualmente, os sistemas eletrônicos integrados seguem o paradigma do projeto baseado em núcleos de hardware. Além de núcleos digitais, tais sistemas podem incluir núcleos analógicos, que, neste caso, dominam os requisitos de teste, como tempo de teste e número adicional de pinos. Consequentemente, há um aumento do custo total de manufatura do disposi
Publicado em: 2007
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30. Inserção de testabilidade em um núcleo pré-projetado de um microcontrolador 8051 fonte compatível
No intuito de validar seus projetos de sistemas integrados, o Grupo de Microeletrônica da UFRGS tem investido na inserção de estruturas de teste nos núcleos de hardware que tem desenvolvido. Um exemplo de tal tipo de sistema é a “caneta tradutora”, especificada e parcialmente desenvolvida por Denis Franco. Esta caneta se utiliza de um microcontrolad
Publicado em: 2007
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31. Design of a soft-error robust microprocessor / Projeto de um Microprocessador Robusto a Soft Errors
O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de r
Publicado em: 2007
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32. Low cost BIST techniques for linear and non-linear analog circuits
Com a crescente demanda por produtos eletrônicos de consumo de alta complexidade, o mercado necessita de um rápido ciclo de desenvolvimento de produto com baixo custo. O projeto de equipamentos eletrônicos baseado no uso de núcleos de propriedade intelectual ("IP cores") proporciona flexibilidade e velocidade de desenvolvimento dos chamados "sistemas num
Publicado em: 2007
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33. Desenvolvimento de um sistema automático para irrigação de precisão em pivô central / Development of an automatic system for precision irrigation with center pivot
Com o objetivo de desenvolver um sistema de automação de modo a propiciar a irrigação de precisão em equipamentos do tipo pivô central, foram construídos "softwares" e "hardwares" na Escola Superior de Agricultura "Luiz de Queiroz", da Universidade de São Paulo - ESALQ/USP, pertencente ao campus de Piracicaba. O presente proje
Publicado em: 2007
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34. Reuse-based test planning for core-based systems-on-chip
O projeto de sistemas eletrônicos atuais segue o paradigma do reuso de componentes de hardware. Este paradigma reduz a complexidade do projeto de um chip, mas cria novos desafios para o projetista do sistema em relação ao teste do produto final. O acesso aos núcleos profundamente embutidos no sistema, a integração dos diversos métodos de teste e a oti
Publicado em: 2007
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35. Soluções híbridas de hardware/software para a detecção de erros em systems-on-chip (SoC) de tempo real
Nos últimos anos, o crescente aumento do número de aplicações críticas envolvendo sistemas de tempo real aliado ao aumento da densidade dos circuitos integrados e a redução progressiva da tensão de alimentação, tornou os sistemas embarcados cada vez mais susceptíveis à ocorrência de falhas transientes. Técnicas que exploram o aumento da robuste
Publicado em: 2006
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36. Study and design of high speed D/A converter in CMOS tecnology. / Estudo e projeto de um conversor D/A de alta velocidade em tecnologia CMOS.
Neste trabalho é descrito o projeto e testes de um conversor digital/analógico de alta velocidade fabricado em tecnologia CMOS. O conversor pojetado possui resolução de 6 bits, trabalha em freqüência de 200 MSample/s, e foi fabricado na tecnologia CMOS de 0,35 µm da AMS (Austriamicrosystems), com quatro níveis de metal e 2 de silício policristalino.
Publicado em: 2005