Uma Técnica de depuração e teste de circuitos integrados usando um microscópio eletrônico

AUTOR(ES)

Orellana Hurtado, Carlos Jesus

DATA DE PUBLICAÇÃO

2007

RESUMO

O trabalho tem por objetivo mostrar uma técnica de depuração de circuitos integrados VLSI, utilizando um microscópio eletrônico de varredura (MEV) aliado ao fenômeno de contraste por tensão. São abordadas a descrição da ferramenta, técnicas de observação e depuração dos circuitos, bem como, são sugeridas estratégias de concepção visando facilitar a depuração dos circuitos. Embora tenham sido utilizados circuitos NMOS para realizar as experiências, a técnica é aplicável a circuitos MOS em geral. Resultados experimentais, utilizando circuitos projetados no PGCC, são apresentados.

ASSUNTO(S)

microeletronica testes : circuitos integrados microscopio eletronico : varredura depuração : circuitos integrados

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