Testes Circuitos Integrados
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37. Optimization algorithms of functional units test plans for BIST circuits. / Algoritmos de otimização de planos de teste de unidades funcionais para circuitos BIST.
Grandes saltos tecnológicos viabilizaram a integração de circuitos digitais de alta complexidade, com centenas de pinos e milhões de transistores. Sistematicamente, dispositivos eletromecânicos estão sendo substituídos por Circuitos Integrados (CIs) que contêm sistemas inteiros, ampliando o uso generalizada da eletrônica. Com o aumento da complexida
Publicado em: 2001
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38. Metodologia de qualificação de componentes eletronicos
Este trabalho nasceu da necessidade de melhorar a qualidade e confiabilidade de produtos fabricados. Para atingir este objetivo, o passo mais importante é a de qualificar os componentes que são usados nestes produtos. Neste trabalho apresentaremos uma Metodologia de Qualificação de componentes Eletrônicos, onde abordaremos todos os passos necessários p
Publicado em: 1995
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39. Utilização de equipamentos automaticos de teste em circuitos integrados digitais
Este trabalho comenta alguns aspectos importantes do teste automático de um cir cuito integrado digital. Apresenta os principais tipos de testes elétricos realizados por um equipamento automático de teste, comentando as diferenças dos testes dependendo da tecnologia do componente, nas diversas fases da vida de um circuito integrado digital. São descri
Publicado em: 1994
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40. Desenvolvimento de uma matriz de portas CMOS
É apresentado o projeto de uma matriz deportas CMOS. O capítulo 11 descreve as etapas de projeto, incluindo desde a escolha da topologia das células internas e de interface, o projeto e a simulação elétrica, até a geração do lay-out. O caprtulo III apresenta o projeto dos circuitos de aplicação, incluídos para permitir a validação da matriz. Os
Publicado em: 1991
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41. Desenvolvimento de um circuito integrado para testabilidade de placas
Este trabalho de Mestrado em Engenharia Elétrica, trata do desenvolvimento de um circuito integrado modular para ser aplicado no projeto para testabilidade de placas eletrônicas digitais. E um CI programável que visa facilitar a implementação de Scan-Test e Self-Test nas placas. Os capítulos 1, 2 e 3 servem de subsídio para o trabalho, conceituando o
Publicado em: 1990