Testes Circuitos Integrados
Mostrando 13-24 de 41 artigos, teses e dissertações.
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13. Le test unifie de cartes applique a la conception de systemes fiables
Si on veut assurer de fawn efficace les tests de conception, de fabrication, de maintenance et le test accompli au cours de l'application pour les systemes electroniques, on est amend a integrer le test hors-ligne et le test en-ligne dans des circuits. Ensuite, pour que les systemes complexes tirent profit des deux types de tests, une telle unification doit
Publicado em: 2010
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14. Otimização da síntese do projeto de atuadores MEMS baseados em deformação elástica e estrutura comb-drive / Optimization design synthesis of MEMS actuators based on elastic deformation and comb-drive structure
MEMS (Micro-Electro-Mechanical Systems) é um microsistema invasivo, intermediador e interativo que se desenvolve de forma inteligente, versátil e eficiente. Entretanto, a interatividade, característica que o torna altamente atrativo e suas qualidades de leveza, invisibilidade, economia quanto a consumo de energia, robustez e alta confiabilidade são foco
Publicado em: 2010
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15. A logic built-in self-test architecture that reuses manufacturing compressed scan test patterns
A busca por novas funcionalidades no que diz respeito a melhoria da confiabilidade dos sistemas eletrÃnicos e tambÃm a necessidade de gerir o tempo gasto durante o teste faz do mecanismo Built-in-Self-Test (BIST) um caracterÃstica promissora a ser integrada no fluxo atual de desenvolvimento de Circuitos Integrados (IC). Existem vÃrios tipos de BIST: Memo
Publicado em: 2009
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16. Improvement on voltage regulation and reactive power supply in transmission and distribution networks / Melhoria da regulação de tensão e do suporte de potencia reativa em sistemas integrados de transmissão e distribuição
Com a expansão dos sistemas elétricos e o aumento de carga, uma das dificuldades dos operadores é a manutenção do perfil de tensão do sistema. Neste trabalho é proposta uma estratégia de cálculo de variáveis descontrole, visando melhoria nos perfis de tensão das redes de transmissão e distribuição consideradas de forma integrada. Esta estratég
Publicado em: 2009
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17. Uso de filmes obtido pela polimerização por plasma de tetraetilortossilicato na fabricação de dispositivos miniaturizados. / Use of films obtained by tetraethoxysilane plasma polymerization for production of miniaturized devices.
Os antigos e já bem desenvolvidos dispositivos para tratamentos e/ou análise de amostras têm sido grandemente estudados para novas adaptações, devido à importância de se construir sistemas miniaturizados. A obtenção destes sistemas miniaturizados baseia-se não apenas na construção ou metodologia, mas pode depender de modificação superficial par
Publicado em: 2009
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18. Desenvolvimento de software e hardware para irrigação de precisão usando pivô central
O presente trabalho teve por objetivo desenvolver softwares e hardwares para aplicação ao monitoramento e controle automático para a irrigação de precisão usando sistemas do tipo pivô central. O trabalho foi desenvolvido no Departamento de Engenharia Rural - LER, da Escola Superior de Agricultura "Luiz de Queiroz" - ESALQ, da Universidade de São Paul
Engenharia Agrícola. Publicado em: 2008-03
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19. Caracterização elétrica de dispositivos e circuitos integrados
Neste trabalho foi desenvolvido e implementado um modelo de estrutura para caracterização e teste de dispositivos eletrônicos e circuitos integrados. Este modelo é capaz de validar uma grande variedade de dispositivos e circuitos integrados, inclusive protótipos de SoC (System on Chip). O modelo inclui bancadas de testes, instrumentação, procedimentos
Publicado em: 2008
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20. Verificação de equivalência de circuitos combinacionais dissimilares através do reaproveitamento de cláusulas de conflito
As time goes by, integrated circuits are becoming ever more present in our lives. From the mobile phones we use to the cars we drive, we have almost constant interaction with electronic devices. This proliferation leads to the necessity for more agile and compact circuits, which in turn, makes them more complex and expensive. To produce error-free circuits,
Publicado em: 2008
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21. Protecting digital circuits against hold time violations due to process variations
Com o desenvolvimento da tecnologia CMOS, os circuitos estão ficando cada vez mais sujeitos a variabilidade no processo de fabricação. Variações estatísticas de processo são um ponto crítico para estratégias de projeto de circuitos para garantir um yield alto em tecnologias sub-100nm. Neste trabalho apresentamos uma técnica de medida on-chip para c
Publicado em: 2008
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22. Núcleos IP corretores de erros para proteção de memória em SoC
O constante avanço no processo de fabricação de circuitos integrados tem reduzido drasticamente a geometria dos transistores e os níveis das tensões de alimentação. Em circuitos de alta densidade operando a baixa tensão, as células de memória são capazes de armazenar informação com menos capacitância, o que significa que menos carga ou corrente
Publicado em: 2008
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23. On-silicon testbench for validation of soft logic cell libraries / Circuito de teste em silício para validação de bibliotecas de células lógicas geradas por software
Projeto baseado em células-padrão é a abordagem mais aplicada no mercado de ASIC atualmente. Essa abordagem de projeto consiste no reuso de bibliotecas de células pré-customizadas para gerar sistemas digitais mais complexos. Portanto a eficiência de um projeto ASIC está relacionado com a biblioteca em uso. A utilização de portas lógicas CMOS gerada
Publicado em: 2008
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24. Contribuições para o problema de verificação de equivalência combinacional
A decrease the SAT solver solving time used to prove equivalence between the circuits. Through this technique, which was implemented in a tool called Vimplic, we have been able to dramatically reduce the overall verification time of several circuits outperforming the state-of-the-art techniques for CEC. This technique has been formalized in order to assure c
Publicado em: 2008