Caracterização elétrica de dispositivos e circuitos integrados

AUTOR(ES)

Hélder Henrique Guimarães

DATA DE PUBLICAÇÃO

2008

RESUMO

Neste trabalho foi desenvolvido e implementado um modelo de estrutura para caracterização e teste de dispositivos eletrônicos e circuitos integrados. Este modelo é capaz de validar uma grande variedade de dispositivos e circuitos integrados, inclusive protótipos de SoC (System on Chip). O modelo inclui bancadas de testes, instrumentação, procedimentos e automação de processos com a criação de programas usando LabVIEW R e GPIB.

ASSUNTO(S)

labview nanoeletrônica engenharia eletrica gpib medidas

Documentos Relacionados

• Sistema de fotorrepetição para fabricação de circuitos integrados
• Planejamento estrutural e simulação de partes de controle de circuitos integrados
• Editor grafico interativo para projetos de circuitos integrados
• Avaliação de desempenho de partes de controle de circuitos integrados
• Um sistema de modelagem automatica de circuitos integrados digitais MOS