Desenvolvimento de um circuito integrado para testabilidade de placas

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

1990

RESUMO

Este trabalho de Mestrado em Engenharia Elétrica, trata do desenvolvimento de um circuito integrado modular para ser aplicado no projeto para testabilidade de placas eletrônicas digitais. E um CI programável que visa facilitar a implementação de Scan-Test e Self-Test nas placas. Os capítulos 1, 2 e 3 servem de subsídio para o trabalho, conceituando o problema-teste de circuitos 1ógicos, geração de vetores de teste e projeto para testabilidade. No capítulo 4 é apresentado o projeto do Circuito para Teste Integrado de Placas (CTIP), partindo da especificação, simulação, lay-out, até os testes de validação. No capítulo 5 apresentam-se as conclusões e um exemplo de aplicação do CTIP

ASSUNTO(S)

circuitos integrados sistemas eletronicos circuitos logicos testes eletricos

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