Testes Circuitos Digitais
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13. On-silicon testbench for validation of soft logic cell libraries / Circuito de teste em silício para validação de bibliotecas de células lógicas geradas por software
Projeto baseado em células-padrão é a abordagem mais aplicada no mercado de ASIC atualmente. Essa abordagem de projeto consiste no reuso de bibliotecas de células pré-customizadas para gerar sistemas digitais mais complexos. Portanto a eficiência de um projeto ASIC está relacionado com a biblioteca em uso. A utilização de portas lógicas CMOS gerada
Publicado em: 2008
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14. Um microprocessador com capacidades analógicas
Este trabalho apresenta um estudo, implementação e simulação de geradores de sinais analógicos usando-se circuitos digitais, em forma de CORE, integrando-se este com o microprocessador Risco. As principais características procuradas no gerador de sinais são: facilidade de implementação em silício, programabilidade tanto em freqüência quanto em am
Publicado em: 2007
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15. Planejamento de teste de sistemas baseados em núcleos de hardware de sinal misto usando bist
Atualmente, os sistemas eletrônicos integrados seguem o paradigma do projeto baseado em núcleos de hardware. Além de núcleos digitais, tais sistemas podem incluir núcleos analógicos, que, neste caso, dominam os requisitos de teste, como tempo de teste e número adicional de pinos. Consequentemente, há um aumento do custo total de manufatura do disposi
Publicado em: 2007
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16. Inserção de testabilidade em um núcleo pré-projetado de um microcontrolador 8051 fonte compatível
No intuito de validar seus projetos de sistemas integrados, o Grupo de Microeletrônica da UFRGS tem investido na inserção de estruturas de teste nos núcleos de hardware que tem desenvolvido. Um exemplo de tal tipo de sistema é a “caneta tradutora”, especificada e parcialmente desenvolvida por Denis Franco. Esta caneta se utiliza de um microcontrolad
Publicado em: 2007
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17. Deciding difference logic in a Nelson-Oppen combination framework
O método de combinação de Nelson-Oppen permite que vários procedimentos de decisão, cada um projetado para uma teoria específica, possam ser combinados para inferir sobre teorias mais abrangentes, através do princípio de propagação de igualdades. Provadores de teorema baseados neste modelo são beneficiados por sua característica modul
Publicado em: 2007
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18. A Neural-Network-Digital Implementation for Induction Motor Drive / Implementação digital de redes neurais artificiais para o controle de motor de indução
Este trabalho tem como contribuição a implementação de redes neurais artificiais utilizadas no controlador sensorless do motor de indução trifásico. Estas redes neurais foram representadas como circuitos dentro de um FPGA (Field Programmable Gate Array), constituidas por neuronios representados por processadores digitais independentes e sintetizados e
Publicado em: 2006
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19. PROTOTYPING AND ANALYSES OF LOW POWER ARRAY MULTIPLIER CIRCUITS / PROTOTIPAÇÃO E ANÁLISE DE CIRCUITOS MUTIPLICADORES ARRAY DE BAIXO CONSUMO
Este trabalho apresenta a prototipação e análise de novas arquiteturas de circuitos multiplicadores digitais sob o ponto de vista físico. São analisados circuitos recentemente apresentados no meio científico e comparados com o estado da arte. As novas arquiteturas efetuam operações de multiplicação com sinal e mantêm a mesma regularidade de um mul
Publicado em: 2005
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20. Optimization algorithms of functional units test plans for BIST circuits. / Algoritmos de otimização de planos de teste de unidades funcionais para circuitos BIST.
Grandes saltos tecnológicos viabilizaram a integração de circuitos digitais de alta complexidade, com centenas de pinos e milhões de transistores. Sistematicamente, dispositivos eletromecânicos estão sendo substituídos por Circuitos Integrados (CIs) que contêm sistemas inteiros, ampliando o uso generalizada da eletrônica. Com o aumento da complexida
Publicado em: 2001
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21. Utilização de equipamentos automaticos de teste em circuitos integrados digitais
Este trabalho comenta alguns aspectos importantes do teste automático de um cir cuito integrado digital. Apresenta os principais tipos de testes elétricos realizados por um equipamento automático de teste, comentando as diferenças dos testes dependendo da tecnologia do componente, nas diversas fases da vida de um circuito integrado digital. São descri
Publicado em: 1994
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22. Implementação e testes de uma malha de fase travada (PLL) de costas modificado para receptores opticos coerentes
A detecção óptica feita por OPLL s (Optical Phase-Locked Loop), de sinais modulados em fase digitalmente, é estudada por intermédio de simulação experimental eletrônica. São mostradas, também, as equações fundamentais para o projeto e construção de um OPLL de Costas com Filtro de Malha (Loop Filter) de I!!.ordem modificado. Este OPLL tem a vant
Publicado em: 1992
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23. Desenvolvimento de uma matriz de portas CMOS
É apresentado o projeto de uma matriz deportas CMOS. O capítulo 11 descreve as etapas de projeto, incluindo desde a escolha da topologia das células internas e de interface, o projeto e a simulação elétrica, até a geração do lay-out. O caprtulo III apresenta o projeto dos circuitos de aplicação, incluídos para permitir a validação da matriz. Os
Publicado em: 1991
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24. Desenvolvimento de um circuito integrado para testabilidade de placas
Este trabalho de Mestrado em Engenharia Elétrica, trata do desenvolvimento de um circuito integrado modular para ser aplicado no projeto para testabilidade de placas eletrônicas digitais. E um CI programável que visa facilitar a implementação de Scan-Test e Self-Test nas placas. Os capítulos 1, 2 e 3 servem de subsídio para o trabalho, conceituando o
Publicado em: 1990