Circuitos Eletronicos
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25. Propriedades mecânicas e eletrônicas de nanofios de cobre e ouro / Mechanical and electronic properties of copper and gold nanowires
A necessidade de ampliar a capacidade de processamento computacional produziu um intenso esforço científico e tecnológico para produzir circuitos eletrônicos cada vez menores. Recentemente, resultados experimentais e teóricos estabeleceram que nanofios de cobre e ouro sob tensão evoluem para cadeias atômicas, o menor condutor possível. Neste trabalho
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 31/05/2010
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26. Desenvolvimento de uma ferramenta para o ensino de física experimental a distância
Apresentamos neste artigo dados sobre desenvolvimento de um sistema de instrumentação virtual que possibilita o controle e coleta de dados de experimentos através da internet, para o uso em atividades de ensino de física experimental a distância. O sistema é composto por um conjunto interativo de softwares e hardwares. Foram criados três tipos diferen
Revista Brasileira de Ensino de Física. Publicado em: 2010-12
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27. Instrumentação e metodologias de medição de biopotenciais
O registro de biopotenciais pode ser visto como uma prática de grande importância na busca do entendimento sobre o funcionamento de sistemas biológicos. Pode também ser entendido como uma valiosa ferramenta de diagnóstico, amplamente divulgada e adotada na literatura médica. Embora consolidado como instrumento de avaliação fisiológica, os dispositiv
Publicado em: 2010
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28. Aplicação da programação geométrica no projeto de filtros Gm-C para receptores RF CMOS. / Application of geometric programming to the desing og GM-C filters for CMOS RF receivers.
A tendência do mercado da microeletrônica é integrar em um mesmo chip sistemas eletrônicos completos, incluindo simultaneamente circuitos analógicos, digitais e RF. Por causa da complexidade do problema de projeto, a parte analógica e RF desses sistemas é o gargalo do desenvolvimento. Uma alternativa de projeto para circuitos analógicos é formular o
Publicado em: 2010
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29. Teste de SRAMs baseado na integração de March teste e sensores de corrente on-chip
Atualmente é possível observar que a área dedicada a elementos de memória em sistemas embarcados (Systems-on-Chip, SoC) ocupa a maior porção dos circuitos integrados e com o avanço da tecnologia Very Deep Sub-Micron (VDSM), é possível integrar milhões de transistores em uma única área de silício. O fato desta elevada integração faz com que sur
Publicado em: 2010
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30. SGC : um ambiente para a automação de procedimentos de caracterização e teste
Este trabalho trata de ambientes de software para a realização de teste e caracterização de dispositivos, componentes ou circuitos eletro-eletrônicos, de forma automatizada. Ênfase especial é dada à problemática relacionada ao teste e caracterização automatizados de dispositivos e circuitos integrados. O assunto é tratado sob dois pontos de vista
Publicado em: 2010
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31. Implementação e avaliação de métodos para confiabilidade de redes intra-chip
As inovações na fabricação de circuitos integrados têm reduzido continuamente o tamanho dos componentes, permitindo um aumento na densidade lógica de sistemas eletrônicos complexos, denominados SoCs (Systems‐on‐a‐Chip), mas afetando também a confiabilidade destes componentes. Barramentos globais utilizados para interconexão de comp
Publicado em: 2010
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32. Proposta de implementação em hardware dedicado de redes neurais competitivas com técnicas de circuitos integrados analógicos / Proposal for implementation in dedicate hardware of competitive neural networks with analog integrated circuits techniques"
Neste trabalho apresenta-se uma proposta de uma técnica para implementação em hardware, das estruturas básicas de uma Rede Neural Competitiva, baseada em técnicas analógicas. Através desta proposta, será abordada uma das classes mais interessantes de Redes Neurais Artificiais (RNA) que são as Redes Neurais Competitivas (RNC), que possuem forte inspi
Publicado em: 2010
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33. Procedimento de teste para deteccao de falhas no processador transputer / Test procedure for faults detection in the transputer processor
Procedimentos de teste para dispositivos eletrônicos tem sido construídos de forma a lidar com problemas, tais como geração de padrões de teste, cobertura de falhas e outros parâmetros tais como custo e tempo. Com o surgimento dos circuitos VLSI (Very Large Scale Integration), tais como os processadores, os problemas do teste tem aumentado. Com relaç�
Publicado em: 2010
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34. DEVELOPMENT OF A TRANSDUCER BASED ON THE PHASE OF THE GIANT MAGNETOIMPEDANCE FOR THE MEASUREMENT OF BIOMAGNETIC FIELDS / DESENVOLVIMENTO DE TRANSDUTOR BASEADO NA FASE DA MAGNETOIMPEDÂNCIA GIGANTE PARA MEDIÇÃO DE CAMPOS BIOMAGNÉTICOS
Esta dissertação tem por objetivo o desenvolvimento de um transdutor magnético baseado no efeito da Magnetoimpedância Gigante (GMI ¿ Giant Magnetoimpedance), destinado à medição de campos biomagnéticos. A motivação deste trabalho advém da inexistência de um sistema de baixo custo capaz de medir satisfatoriamente campos biomagnéticos, operando �
Publicado em: 2010
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35. Gerente de configurações para o ambiente STAR / Configuration manager to STAR framework
Este trabalho apresenta os mecanismos de gerencia de configurações para o ambiente STAR. STAR é uma plataforma para o desenvolvimento de ambientes para projetos de circuitos e sistemas eletrônicos que está sendo desenvolvido na Universidade Federal do Rio Grande do Sul em cooperação com o Centro Científico da IBM no Rio de Janeiro. Seus objetos de pr
Publicado em: 2010
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36. Reguladores integrados charge-pump multiplicadores de tensão para aplicações de alta corrente / Integrated charge pump voltage multiplier regulator for high current applications
Neste trabalho de Mestrado, foi projetado um conversor DC/DC charge-pump (CP) duplicador de tensão para corrente de carga máxima de 20mA, e que necessita de circuitos de controle para o apropriado acionamento das chaves, regulação de tensão e proteção do estágio duplicador de tensão. O sistema de controle projetado é composto por um circuito de reg
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 17/12/2009