Procedimento de teste para deteccao de falhas no processador transputer / Test procedure for faults detection in the transputer processor 

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DATA DE PUBLICAÇÃO

2010

RESUMO

Procedimentos de teste para dispositivos eletrônicos tem sido construídos de forma a lidar com problemas, tais como geração de padrões de teste, cobertura de falhas e outros parâmetros tais como custo e tempo. Com o surgimento dos circuitos VLSI (Very Large Scale Integration), tais como os processadores, os problemas do teste tem aumentado. Com relação aos processadores, sua complexidade é um convite para o uso de procedimentos de teste funcionais, ignorando a estrutura física dos circuitos. Adicionalmente, informações sobre a estrutura do processador são geralmente desconhecidas por parte do usuário. No nível funcional, um processador é tratado como um sistema composto por blocos funcionais, cuja descrição pode ser obtida no manual do usuário. Cada bloco e caracterizado pela sua função, como por exemplo, a unidade lógica e aritmética, registradores, memória, etc... Testar o processador consiste em exercitar cada bloco com padrões de teste determinados. A utilização do processador transputer em situações onde se faz necessário um certo nível de confiabilidade depende da utilização de técnicas para detecção on-line. No presente trabalho é proposto um procedimento para o teste funcional do transputer. O teste funcional aqui proposto permite detecção de falhas on-line, em um contexto de aplicação periódica (pela suspensão temporária mas sem alteração do contexto da aplicação do usuário), com baixa degradação no desempenho global do sistema. Hipóteses e procedimentos relacionados a fabricação de circuitos não são considerados. Para possibilitar o uso de técnicas de teste convencionais, o transputer IMS T800 é particionado em blocos funcionais e um modelo para o teste, baseado na organização desse componente, e proposto. Este modelo é apoiado pela similaridade desse processador com um sistema microprocessado. Após o particionamento cada bloco funcional pode ser testado em separado; para os blocos que possuem organização como a de microprocessadores convencionais (tais como parte da CPU e a FPU), utiliza-se como base o método proposto por Robach and Saucier [ROB80]. De acordo com este método de teste funcional, as instruções do processador são modeladas por intermédio de grafos, que formam a base para definição de um conjunto mínimo de instruções. A execução desse conjunto exercita todos os elementos pertencentes ao respectivo bloco funcional do transputer. Entretanto, o procedimento proposto não é uma aplicação direta da metodologia citada, devido a características particulares do transputer, especialmente no que diz respeito ao paralelismo de operações, e sua estrutura de blocos internos. Com relação aos testes on-line, a utilização de um conjunto de instruções reduzido possibilita a realização de um teste rápido, reduzindo perdas de desempenho. Para os blocos restantes, de acordo com suas características, são construídos procedimentos de teste específicos. A freqüência de execução é ajustável para cada bloco. Dependendo das exigências da aplicação, alguns procedimentos podem ser omitidos, reduzindo a carga provocada pelo procedimento de teste no desempenho do sistema. A validação do procedimento de teste é realizada de duas maneiras: injeção de falhas, para verificar a capacidade de detecção: e avaliação de desempenho, para identificar o nível de degradação causado pela utilização do procedimento de teste em um sistema genérico. Apesar desse trabalho ter sido desenvolvido com base na estrutura da maquina TNODE [TEL91] e na abordagem de teste global descrita em [NUN93b], o procedimento de teste proposto pode ser utilizado em qualquer sistema composto por transputers, cujos parâmetros de aplicação se enquadrem nos requisitos usados neste trabalho.

ASSUNTO(S)

microprocessadores functional test transputers transputer tolerancia : falhas fault tolerance testes funcionais computer organization parallel processing processamento paralelo

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