Raios X Difracao Multipla
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1. Uso do resíduo do beneficiamento de rochas ornamentais como substituto parcial ao aglomerante na produção de concretos estruturais
Resumo Em decorrência do aumento populacional, da melhoria das condições de vida, da elevação dos níveis de consumo e da crescente industrialização dos países em desenvolvimento, estima-se que a produção de concreto apresentará expressivo crescimento ao longo das próximas décadas. O processo de produção do cimento é responsável por aproxima
Rev. IBRACON Estrut. Mater.. Publicado em: 2020-06
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2. Difração Bragg-Superfície no estudo de sistemas epitaxiais baseados em pontos quânticos de InAs/GaAs / Bragg-surface diffraction on the study of epitaxial systems based on InAs/GaAs quantum dots
Nanodispositivos são objetos fabricados pelo homem com estruturas internas as quais têm ao menos uma dimensão física em escala nanométrica. A baixa dimensionalidade implica em níveis de energia quantizados, conferindo notáveis diferenças às propriedades ptoelétricas desses dispositivos, o que os torna bastante atrativos para a indústria de micro e
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 17/03/2011
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3. Estudo estrutural de nanossistemas semicondudores e semicondutores implantados por difração de raios-X de n-feixes / Structural study of semiconductors nanosystems and implanted semiconductors by means of n-beams X-ray diffraction
In this paper, X-ray multiple diffraction (MD) associated with the advantages of synchrotron radiation appears as a high-resolution microprobe and it is used to obtain relevant contributions to the study of structural properties of semiconductor materials, as they present themselves nanosystems epitaxial or implanted with ions. The study and detection of neg
Publicado em: 2010
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4. Nanotubos de carbono como adsorvente de hidrogênio : produção e caracterização comparativa com outros materiais carbonos adsorventes
Neste trabalho, nanotubos de carbono (NTC) foram produzidos e analisados quanto à adsorção de hidrogênio, comparativamente a outros materiais de estrutura carbonosa, como carvão ativado, grafite e negro de fumo, também utilizados como adsorvente de gases. Os nanotubos de carbono, tanto os de parede simples (NTCPS) como os de parede múltipla (NTCPM), f
Publicado em: 2009
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5. A influência da adição de caulim, quartzo e feldspato potássico na formulação de massas cerâmicas para telhas: Modelo estatístico
A produção de telha no Estado do Rio Grande do Norte representa cerca de 60 % do total de peças cerâmicas produzidas. Percebe-se a necessidade de investimento na melhoria da qualidade e da produtividade, promovendo assim inovações tecnológicas. Neste contexto, o objetivo geral deste trabalho é verificar o efeito da adição de caulim, feldspato potá
Publicado em: 2008
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6. Difração multipla de raios-X no estudo das propriedades estruturais da L-histidina hidroclorídrica monohidratada / X-ray multiple diffraction in the study of the structural properties of L-histidine hydrochloride monohydrate
Neste trabalho, o método baseado na variação nas posições angulares dos picos secundários em uma varredura Renninger da difração múltipla de raios-X usando radiação síncrotron foi utilizado para a determinação dos coeficientes piezelétricos da -histidina. HCl. H2O. A grande sensibilidade da técnica a pequenas deformações na célula unitári
Publicado em: 2006
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7. Difração Bragg-Superficie (BSD) : uma sonda de alta resolução para o estudo da implantação de ions em supercondutores / Bragg-Surface diffraction (BSD) : high resolution microprobe to study ion implanted semiconductors
Neste trabalho, a difração Bragg-Superfície (BSD), um caso especial da difração múltipla de raios-X, foi usada como uma microssonda de superfície com resolução para a detecção de defeitos originados próximos da interface cristal-amorfo (c-a) em junções rasas de B em Si, e uma nova técnica de caracterização de semicondutores (GaAs) submetidos
Publicado em: 2006
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8. N-beam X-ray diffraction in the structural characterization of single crystals under temperature and external electric field / Difração de raios-X de n-feixes na caracterização estrutural de monocristais sob a ação de temperatura e campo eletrico externo
Como primeira contribuição deste trabalho, as varreduras Renninger (VR) da difração múltipla de raios-X foram empregadas no estudo da transição de fase estrutural do Sal de Rochelle (monoclínica-ortorrômbica) induzida por temperatura. Devido ao caráter tridimensional e sensibilidade dessa técnica acompanhamos as deformações na célula unitária
Publicado em: 2006
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9. Caracterização de multicamadas TiO2/TiNxOy por tecnicas de difração de raios-X
Técnicas de Difração de Raios-X foram utilizadas com o objetivo de caracterizar as propriedades mecânicas de filmes finos e multicamadas de TiO2 e TiNxOy, com diferentes espessuras, crescidas por deposição química de organometálicos em fase vapor a baixa pressão (LP-MOCVD) sobre substratos de Si(001) e Al2O3(012) (safira). Foram realizadas experiên
Publicado em: 2003
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10. Estudo de piezeletricidade e transições de fase nos cristais de KDP e sal de Rochelle com difração multipla de raios-X
Neste trabalho, a difração múltipla de raios-X (DM) é usada para investigar distorções na rede cristalina induzidas por um campo elétrico externo (E) permitindo a determinação de todos os coeficientes piezelétricos do sal de Rochelle e também mostrando que a técnica é factível na detecção da transição de fase do di-hidrogenofosfato de potá
Publicado em: 2002
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11. Estudos estruturais em materiais organicos para a optica não-linear usando a difração multipla de raios-x
Não informado
Publicado em: 1999
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12. Difração multipla de raios-X no estudo de ordenamento em ligas semicondutoras e defeitos em semicondutores implantados
The aim of this work is to develop the X-ray multiple diffraction, as a new technique to characterize semiconductors wafers submitted to ion implantation and, epitaxial layers that presents atomic ordering. The technique was also of great usefulness in the study of the heterostucture lattice coherence. The sensitivity of the Bragg-surface diffraction (BSD) c
Publicado em: 1999