Circutos Eletranicos
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1. A logic built-in self-test architecture that reuses manufacturing compressed scan test patterns
A busca por novas funcionalidades no que diz respeito a melhoria da confiabilidade dos sistemas eletrÃnicos e tambÃm a necessidade de gerir o tempo gasto durante o teste faz do mecanismo Built-in-Self-Test (BIST) um caracterÃstica promissora a ser integrada no fluxo atual de desenvolvimento de Circuitos Integrados (IC). Existem vÃrios tipos de BIST: Memo
Publicado em: 2009