Estudos de sintetizaÃÃo e caracterizaÃÃo de filme de bissulfeto de molibdÃnio (MoS2) para aplicaÃÃes espaciais.

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

2000

RESUMO

Neste trabalho, apresenta-se a pesquisa desenvolvida para sintetizar e caracterizar filmes finos de bissulfeto de molibdÃnio (MoS2) como lubrificante sÃlido para aplicaÃÃes espaciais e industriais. A obtenÃÃo do filme foi estudada via PVD (Physical Vapor Deposition), e trÃs tÃcnicas de deposiÃÃo foram utilizadas: "Laser Ablation", EvaporaÃÃo TÃrmica e "Sputtering". Das tÃcnicas utilizadas, aquela que produziu um filme mais cristalino e com melhor aderÃncia foi a tÃcnica de "sputtering", apartir de descarga de radio freqÃÃncia (RF). Para as tÃcnicas de "laser ablation" e "sputtering", fez-se necessÃrio a utilizaÃÃo de um alvo do material a ser evaporado. O processamento e as caracterizaÃÃes deste alvo constituem uma parte importante deste trabalho, tendo em vista a necessidade do uso adequado da tecnologia de compactaÃÃo e pÃs processamento. Os alvos assim desenvolvidos com um pà ultra-fino e de alta pureza apresentaram excelente resistÃncia mecÃnica, nÃo necessitando de cuidados especiais na manipula;cÃo, o que representa uma primeira inovaÃÃo deste trabalho. Estas caracterÃsticas propiciaram um alvo de qualidade superior aos internacionais, que sÃo prensados a quente, e muitas vezes com o uso de ligantes que comprometem a composiÃÃo quÃmica dos mesmos. Os alvos foram caracterizados via difraÃÃo de raio-X, microscopia eletrÃnica de varredura e espectroscopia de espalhamento Raman. As tÃcnicas de caracterizaÃÃo dos filmes foram escolhidas de forma que a avaliaÃÃo destes atendesse aos interesses deste trabalho, e baseou-se nas anÃlises da rede cristalina, da morfologia, das espÃcies quÃmicas e principalmente nas suas caracterÃsticas tribolÃgicas. Desta forma, foram utilizadas as tÃcnicas de microscopia eletrÃnica de varredura (MEV), de espectroscopia de espalhamento Raman, de XPS (X-Ray Photoelectron Spectroscopy), de difraÃÃo de raio-X em baixo Ãngulo e de microscopia de forÃa atÃmica - AFM (Atomic ForceMicroscopic). Esta Ãltima tÃcnica, em particular, foi mais vastamente estudada, estendendo seu uso no modo de forÃa lateral, onde foi possÃvel medir o coeficiente de atrito dos filmes, alÃm de suas caracterÃsticas morfolÃgicas. Para o filme de MoS2, este estudo representa tambÃm uma inovaÃÃo neste trabalho.

ASSUNTO(S)

tribologia filmes finos materiais programas espaciais lubrificaÃÃo espalhamento espectros raman

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