Single Event Upset Seu
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1. A self-checking scheme to mitigate single event upset effects in SRAM-based FPAAs
In this work the problem of Single Event Upset (SEU) is considered in a recent analog technology: The Field Programmable Analog Arrays (FPAAs). Some FPAA models are based on SRAM memory cells to implement the user programmability, which makes this kind of device vulnerable to SEU when employed in applications susceptible to the incidence of radiation. In the
Publicado em: 2011
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2. Efeitos da radiação em dispositivos analógicos programáveis (FPAAs) e técnicas de proteção
Este trabalho estuda os efeitos da radiação em dispositivos analógicos programáveis (FPAAs, do inglês, Field Programmable Analog Arrays) e técnicas de proteção que podem ser aplicadas para mitigar tais efeitos. Circuitos operando no espaço ou em altitudes elevadas, como, por exemplo, em satélites e aeronaves, recebem doses de radiação e impacto d
Publicado em: 2011
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3. Designing single event upset mitigation techniques for large SRAM-Based FPGA components
Esse trabalho consiste no estudo e desenvolvimento de técnicas de proteção a falhas transientes, também chamadas single event upset (SEU), em circuitos programáveis customizáveis por células SRAM. Os projetistas de circuitos eletrônicos estão cada vez mais predispostos a utilizar circuitos programáveis, conhecidos como Field Programmable Gate Array
Publicado em: 2007