Qualidade Off Line
Mostrando 13-13 de 13 artigos, teses e dissertações.
-
13. Optimization algorithms of functional units test plans for BIST circuits. / Algoritmos de otimização de planos de teste de unidades funcionais para circuitos BIST.
Grandes saltos tecnológicos viabilizaram a integração de circuitos digitais de alta complexidade, com centenas de pinos e milhões de transistores. Sistematicamente, dispositivos eletromecânicos estão sendo substituídos por Circuitos Integrados (CIs) que contêm sistemas inteiros, ampliando o uso generalizada da eletrônica. Com o aumento da complexida
Publicado em: 2001