Pincas Opticas
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1. Teoria e calibração de pinças ópticas / Theory and calibration of optical tweezers
Neste trabalho estudamos alguns aspectos físicos do pinçamento óptico. Usamos um método de calibração da pinça óptica via análise da função de autocorrelação da posição da microesfera; por meio deste é possível determinar a constante de força da pinça de duas maneiras: usando a amplitude e o tempo característico desta função. Verificamo
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 16/02/2012
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2. Expansão de campos eletromagnéticos arbitrários em termos de funções de onda vetoriais / Expansion of arbitrary electromagnetic fields in terms of vector spherical wave functons
Desde 1908, quando Mie apresentou expressões analíticas para os campos espalhados por uma partícula esférica sob incidência de uma onda eletromagnética plana, generalizações para esta expansão têm se mostrado incompletas. Isto se deve à presença de certos termos com dependência radial nos coe cientes de forma do feixe quando expandido em termos
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 12/11/2010
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3. Axicons fotorrefrativos: estudo de efeitos foto-induzidos por feixe de Bessel em cristais fotorrefrativos / Axicons fotorrefrativos: estudo de efeitos foto-induzidos por feixe de Bessel em cristais fotorrefrativos
Neste trabalho, apresentamos um estudo teórico e computacional do processo de foto-indução por feixes ópticos (Gaussiano e Bessel) em meios fotorrefrativos. Com atenção especial, devido a sua originalidade, aos efeitos foto-induzidos por feixes de Bessel em cristais fotorrefrativos. Considerando que, as modernas aplicações dos feixes de Bessel em met
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 29/03/2010
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4. Localized beams in optical tweezers with conventional and metamaterial particles / Feixes localizados em pinças opticas com particulas convencionasi e metamateriais
In this thesis, we explore some applications of localized beams in FSO - Free Space Optics - and optical tweezers, greater emphasis been given to the second one. For FSO, we show that it is possible to choose the desired longitudinal intensity pattern by using optical elements adequately modeled in their phase functions: the axicons. In this way, these beams
Publicado em: 2009
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5. Pinças ópticas: experimento, teoria e aplicação no estudo da interação DNA-fármacos
Iniciamos este trabalho estudando a física da pinça óptica. Trata-se de uma técnica de micromanipulação bastante utilizada para estudar partículas e sistemas biológicos com tamanho na escala de micrômetro. Analisamos teoricamente o fenômeno e aplicamos técnicas experimentais com a finalidade de comprovar experimentalmente uma recente teoria de pin
Publicado em: 2008
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6. Desenvolvimento de metodologia de medida vetorial das forças em tempo real de microorganismos utilizando ponças opticas para estudos de quimiotaxia e osmotaxia de parasita / Development of methodology vectorial measurements of forces in real time of microorganisms using optical tweezers for chemotaxis and osmotaxis studies of parasites
Unicellular microorganisms, like others live beings, need to interact with environment to find nourishment. They have only hydrodynamics sensors and biochemical receptors on membrane to accomplish this task. The response of the microorganism to concentration gradients of attractive or repulsive chemical substances is called chemotaxis. The investigation of c
Publicado em: 2007
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7. Força optica em pinças opticas : estudo teorico e experimental / Optical force in optical tweezers : theory and experiment
The optical tweezers is an instrument capable of manipulating and trapping dielectric particles through the radiation pressure. Their applications in the life sciences and biophysics increased exponentially after it has been demonstrated that it allowed to microorganisms to be maintained alive trapped for long times. Information obtained from these experimen
Publicado em: 2006
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8. Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica / Analysis of the calibration potential of optical force through atomic force microscopy devices
O microscópio de força atômica é uma ferramenta que possibilita a medida de forças precisamente localizadas com resoluções no tempo, espaço e força jamais vistas. No coração deste instrumento está um sensor a base de uma viga (cantilever) que é responsável pelas características fundamentais do AFM. O objetivo desta pesquisa foi usar a deflexã
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 19/12/2005