Microscopio De Forca Atomica Afm
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1. Analysis of the Early Stages and Evolution of Dental Enamel Erosion
Resumo O objetivo deste estudo foi avaliar os estágios iniciais e a evolução da erosão do esmalte dental causado pela exposição ao ácido clorídrico, simulando assim episódios de refluxo gastroesofágico, usando um microscópio de força atômica (AFM). Fragmentos de esmalte bovino planificados e polidos (4x4x2 mm) foram selecionados e exposto a 0,1
Braz. Dent. J.. Publicado em: 2016-06
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2. Nanostructured screen-printed electrodes modified with self-assembled monolayers for determination of metronidazole in different matrices
Neste trabalho é descrito o desenvolvimento de um sensor para detecção de metronidazol, usando um método simples para preparar estruturas nanoporosas de ouro em eletrodos impressos comerciais modificados com monocamadas autoarranjadas de tiol (SAMs). O processo envolve a formação inicial de espécies de ouro oxidadas a pH 7,0, e posteriormente a reduç
J. Braz. Chem. Soc.. Publicado em: 2014-09
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3. Eletropolimerização pulsada para confecção de camadas transportadoras de cargas foto-geradas em dispositivos fotovoltaicos orgânicos
Neste trabalho, filmes de polianilina (PAni) depositados por eletropolimerização potenciostática pulsada foram utilizados como camada transportadora em dispositivo orgânico fotovoltaico de heterojunção. Os filmes de PAni foram depositados sobre eletrodo de óxido de índio e estanho (ITO) utilizando-se potenciais pulsados de 1,0 V e 1,5 V em solução
Polímeros. Publicado em: 2014
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4. Quantificação de forças na manipulação de nano-objetos individuais em experimentos "in situ" de mocroscopia eletronica / Quantification of forces on the manipulation of individual nano-objects in "in situ" experiments of electron microscopy
O estudo de nano-sistemas tem atraído grande atenção nos últimos anos, principalmente devido às suas possíveis e novas aplicações tecnológicas. Muitos esforços têm sido feitos nessa área, porém há ainda várias questões em aberto com relação à compreensão de nanoestruturas. Um dos principais desafios diz respeito à manipulação e o posic
Publicado em: 2010
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5. Nanolitografia do silício utilizando o microscópio de força atômica / Silicon nanolithography using a atomic force microscope
The semiconductor industry is increasingly interested in the miniaturization of devices in the nanometer range. As the traditional techniques of lithography are reaching their limits growth the demand for new, including those that use equipment operating by probe, such as the atomic force microscope (AFM). One of the techniques that uses AFM on to produce na
Publicado em: 2009
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6. Flotação por Ar Dissolvido (FAD) de micropartículas, caracterização de microbolhas e medidas de força de interação bolha-partícula
O presente trabalho descreve um estudo teórico-experimental da flotação por ar dissolvido (FAD) de micropartículas (diâmetro dp < 100 μm), incluindo caracterização de microbolhas (db < 100 μm) pela técnica LTM-BSizer de determinação da distribuição de tamanho de bolhas (DTB) e medidas diretas da força de interação bolha-partícula via micros
Publicado em: 2009
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7. SEMICONDUCTOR NANOSTRUCTURE FABRICATION IN MECHANICAL DEFECTS PRODUCED BY ATOMIC FORCE MICROSCOPY / FABRICAÇÃO DE NANOESTRUTURAS SEMICONDUTORAS EM DEFEITOS PRODUZIDOS POR MICROSCOPIA DE FORÇA ATÔMICA
A combinação de alta densidade, locais seletivos de nucleação e controle da distribuição de tamanho de nanoestruturas semicondutoras tem acelerado o desenvolvimento de dispositivos ópticos e eletrônicos. Para construir estruturas satisfazendo essas necessidades, várias combinações de técnicas deposição de pontos quânticos e nanolitografia fora
Publicado em: 2008
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8. Modelagem do transporte eletrônico em moléculas
A eletrotônica molecular é um novo ramo da nanotecnologia que utiliza moléculas orgânicas como dispositivos. Com o progresso da nanociência e os avanços tecnológicos envolvidos tem sido possível manipular vários dispositivos moleculares. Este trabalho inicia com o estudo das propriedades eletrotônicas da molécula de dithiothreitol (C4H10O2S2) (DTT
Publicado em: 2008
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9. Silicon nano-oxidation using AFM tips. / Nano-oxidação do silício utilizando sonda de AFM.
Local anodic oxidation of silicon using Atomic Force Microscopy (AFM) was investigated by applying a negative voltage between silicon nitride tip and Si surfaces. All samples were cleaned with an ammonium-based solution known in literature as standard cleaning 1 (SC1) or a dip in a diluted hydrofluoric acid solution followed by SC1 or, also, boiling in isopr
Publicado em: 2007
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10. Local anodic oxidation (LAO) lithography of nanodevices by means of atomic force microscopy / Litografia por oxidação anodica seletiva de nanodispositivos atraves de microscopia de força atomica
A Oxidação anódica local em substratos tanto semicondutores quanto metálicos através do Microscópio de Força Atômica tem surgido ao longo dos últimos anos como uma das técnicas de litografia mais confiáveis e versáteis para a fabricação de dispositivos e estruturas em escala nanométrica. Embora aspectos fundamentais, como a dinâmica envolvida
Publicado em: 2006
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11. Análise do potencial de calibração da força óptica através de dispositivos de microscopia de força atômica / Analysis of the calibration potential of optical force through atomic force microscopy devices
O microscópio de força atômica é uma ferramenta que possibilita a medida de forças precisamente localizadas com resoluções no tempo, espaço e força jamais vistas. No coração deste instrumento está um sensor a base de uma viga (cantilever) que é responsável pelas características fundamentais do AFM. O objetivo desta pesquisa foi usar a deflexã
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 19/12/2005
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12. Processing and functionalization of tips for biologial applications of atomic force microscopy / Processamento e funcionalização de pontas para aplicações biologicas de microscopia de força atomica
Este trabalho teve como objetivo implementar a técnica de espectroscopia de força no Microscópio de Força Atômica (AFM) existente no LPD/IFGW/UNICAMP e aplicá-la ao estudo de pontas e amostras funcionalizadas com tiol (mercaptoundecanoic acid). Em particular, foi necessária uma caracterização minuciosa da ponta de AFM, utilizando imagens de microsco
Publicado em: 2005