Difraacao De Raios X
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1. Refinamento da estrutura cristalina de pigmentos baseados no sistema cerâmico ZrSiO4 - αFe2O3 utilizando difração de raios X, Método de Rietveld, Método de Máxima Entropia e Espectroscopia Mössbauer
As amostras de zirconita nao dopada e dopadas com 1%, 5%, 10%, 15% e 20% em massa de hematita foram preparadas pelo metodo convencional de mistura de oxidos. Os pós obtidos foram analisados por difração de raios X e espectroscopia Mossbauer com o objetivo de verificar a formação das fases cristalinas formadas e a incorporação do atomo de ferro na estr
Publicado em: 2010