Circuitos Integrados Lineares
Mostrando 1-7 de 7 artigos, teses e dissertações.
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1. Uma metodologia para identificação de módulos de circuitos integrados propensos a erros
O processo de verificação de circuitos integrados industriais se torna mais desafiador a cada dia. As metodologias de verificação atuais não são capazes de garantir que todos os erros de um circuito integrado sejam identificados e corrigidos antes da fabricação. Como não é possível checar todos os estados de circuitos integrados complexos, a equip
Publicado em: 2011
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2. Geração de tensão de referencia e sinal de sensoriamento termico usando transistores MOS em forte inversão / Reference voltage and temperature sensing signal generation using MOS transistors in strong inversion
Fontes de referência de tensão e sensores de temperatura são blocos extensivamente utilizados em sistemas microeletrônicos. Como alternativa à aplicação de estruturas consolidadas, mas protegidas por acordos de propriedade intelectual, é permanente a demanda pelo desenvolvimento de novas técnicas e estruturas originais destes circuitos. Também se d
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 07/08/2009
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3. Uma ferramenta para automação da geração do leiaute de circuitos analógicos sobre uma matriz de transistores MOS pré-difundidos
Este trabalho apresenta o LIT, uma ferramenta de auxílio ao projeto de circuitos integrados analógicos que utiliza a técnica da associação trapezoidal de transistores (TAT) sobre uma matriz digital pré-difundida. A principal característica é a conversão de cada transistor simples de um circuito analógico em uma associação TAT equivalente, seguido
Publicado em: 2007
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4. Amplificador do tipo auto-zero continuo integrado em tecnologia CMOS
ormado.
Publicado em: 2002
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5. Projeto de um amplificador de instrumentação CMOS integrado
ormado.
Publicado em: 2002
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6. Teste parametricos de circuitos integrados, uma abordagem sistemica baseada na dinamica não linear
Considering the fact that parametric test in integrated circuits manufacturing line is expensive and time consuming, a systemic go/no-go test type has been developed for time reduction. Using the dynamic nonlinear behavior of the electronic devices, the space states is studied through maps to identify parametric deviations of the device under test. The resul
Publicado em: 1998
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7. Metodologia semi-custom : um ambiente de projeto de circuitos analogicos dedicado a um "analog-array"
Os circuitos integrados analógicos de pequena e media complexidade podem, a exemplo dos circuitos digitais, ser confeccionados usando circuitos integrados semidedicados ("semi-custom"). Com esta técnica o projetista necessita apenas realizar as interconexões entre os dispositivos pré-difundidos na lâmina de silício. Entre as várias vantagens da utiliz
Publicado em: 1988