Time to failure assessment of products at service conditions from accelerated lifetime tests with stress-dependent spread in life

AUTOR(ES)

Droguett, Enrique López, Mosleh, Ali

FONTE

Pesquisa Operacional

DATA DE PUBLICAÇÃO

2007-08

RESUMO

Em testes acelerados de vida (ALT) a suposição de que a dispersão do tempo de falha é independente do stress é freqüentemente empregada e aceita pois os modelos resultantes são tipicamente mais fáceis de utilizar e dados ou experiência adquirida sugerem que tal simplificação é algumas vezes válida. Entretanto, em muitas situações e para uma variedade de produtos, a dispersão do tempo de falha depende do stress, i.e., o mecanismo de falha não é o mesmo em todos os níveis de stress. Neste artigo, a estimação do tempo de falha do produto nas condições de serviço a partir de ALT com dispersão dependente do stress é discutida através da formulação de um modelo Bayesiano onde o tempo de falha segue uma distribuição de Weibull e o parâmetro de forma é dependente do stress via uma relação linear. Um conjunto de dados anteriormente publicado é utilizado para ilustrar o procedimento.

ASSUNTO(S)

testes acelerados de vida distribuição de weibull teorema de bayes confiabilidade

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