Three dimensional image analysis for prediction of vinyl triethoxysilane concentration and porosity percent of methyl methacrylate/ethylene glycol dimethacrylate copolymers using scanning electron microscopy
AUTOR(ES)
Esteki, Mahnaz, Khayamian, Taghi, Naghash, Hamid J.
FONTE
Journal of the Brazilian Chemical Society
DATA DE PUBLICAÇÃO
2010
RESUMO
Neste trabalho, micrografias eletrônicas de varredura de esferas de copolímero baseadas em metacrilato de metila (MMA), etilenoglicoldimetacrilato (EGDM) e vinil-trietoxissilano (VTES) foram usadas para construir modelos de regressão multivariada de imagem. Microscopia eletrônica de varredura (SEM) e ensaios de intumescimento indicaram que aumentando a concentração de silicone (VTES) dos copolímetros ocorre um aumento da quantidade de poros e porcentagem de porosidade. Micrografias eletrônicas de varredura dos copolímeros sintetizados com diferentes concentrações de VTES foram usadas para construir dois modelos de calibração, que puderam relacionar a concentração de VTES e a porcentagem de porosidade dos copolímeros com suas imagens de SEM. Para construção dos modelos foram utilizados o método dos mínimos quadrados parciais multi-modo (N-PLS) e componentes principais desdobrados (u-PCR). O poder de previsão dos modelos construídos foi avaliado utilizando um conjunto teste. Os resultados indicaram que os modelos conseguiram prever de forma muito efetiva a concentração de VTES e a porcentagem de porosidade dos copolímeros a partir de suas imagens de SEM.
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