Spectroscopic evidence of photodegradation by ultraviolet exposure of tris(8-hydroxyquinoline) aluminum (Alq3) thin films
AUTOR(ES)
Brito, W. R., Aráujo, G., Quirino, W. G., Legnani, C., Angulo, Y., Cremona, M., Rocco, M. L. M.
FONTE
Journal of the Brazilian Chemical Society
DATA DE PUBLICAÇÃO
2010-12
RESUMO
A degradação extrínseca de diodos orgânicos emissores de luz (OLEDs) permanece como uma questão crucial, especialmente no que se refere à degradação, devido à exposição à luz. Poucos estudos existem e faltam dados a respeito dos produtos de fotodegradação e respectivos mecanismos, responsáveis pela extinção da luminescência. Com o objetivo de investigar os mecanismos de degradação causados pela exposição à luz de filmes finos de Alq3 usado com sucesso como camada transportadora de elétrons e material emissivo na fabricação de OLEDs, a fotodegradação foi monitorada em função da irradiação com luz UV através das técnicas de fotoabsorção e de fotoemissão nas bordas 1s do carbono, do nitrogênio e do oxigênio bem como nas bordas 2s e 2p do alumínio. A influência da exposição à luz foi simulada com o emprego de três comprimentos de onda diferentes: 254, 365 e 307 nm, os dois primeiros correspondendo aproximadamente a máximos de absorção no espectro de UV do Alq3. Após exposição, todos os espectros apresentam um decréscimo nos sinais de fotoabsorção e de fotoemissão. Entretanto, enquanto a radiação de 307 nm causa mudanças menores nos espectros de NEXAFS, modificações mais acentuadas são observadas para a exposição a 254 e 365 nm. Medidas de fotoemissão para filmes finos de Alq3 não-irradiado e irradiado com luz de 307 nm também foram conduzidas. Embora o sinal correspondente ao alumínio mantém-se praticamente intacto, mudanças mais significativas são observadas nas intensidades e deslocamentos dos picos nas bordas 1s do carbono, do nitrogênio e do oxigênio.
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