Semiconductors and Dirichlet-to-Neumann maps
AUTOR(ES)
Leitão, Antonio
FONTE
Computational & Applied Mathematics
DATA DE PUBLICAÇÃO
2006
RESUMO
We investigate the problem of identifying discontinuous doping profiles in semiconductor devices from data obtained by the stationary voltage-current (VC) map. The related inverse problem correspond to the inverse problem for the Dirichlet-to-Neumann (DN) map with partial data.
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