Preparation and voltammetric characterization of electrodes coated with Langmuir-Schaefer ultrathin films of Nafion®

AUTOR(ES)
FONTE

Journal of the Brazilian Chemical Society

DATA DE PUBLICAÇÃO

2003-08

RESUMO

Filmes ultrafinos do polímero perfluorado Nafion® foram depositados em eletrodos de óxido índio-titânio (ITO) usando a técnica de Langmuir-Scaefer (LS), depois da otimização das condições de composição da subfase. As características morfológicas das camadas foram obtidas por Microscopia de Força Atômica (AFM). Filmes de Nafion® LS mostraram boa uniformidade e cobertura completa da superfície do eletrodo. No entanto, diferentes graus de organização das camadas poliméricas ficaram evidentes com respeito a filmes finos depositados por revestimento rotacional. Eletrodos ITO modificados com camadas de Nafion® LS, pré-concentrados por cátions eletroativos de troca iônica, como o Ru[(NH3)6]3+, dissolveram-se em soluções diluídas. A espécie eletroativa foi retida pelo ITO com camada de Nafion® LS, mesmo depois da mudança do eletrodo modificado para eletrodo de suporte purificado. Isto possibilitou o uso do complexo de rutênio como padrão voltamétrico para o teste do fenômeno de difusão nos filmes de Nafion® LS. Os coeficientes de difusão aparentes (Dapp) do Ru[(NH3)6]3+ incorporado no filme de Nafion® LS foram obtidos por medidas voltamétricas. Os valores de Dapp diminuíram levemente com o aumento da quantidade de complexo de rutênio incorporado no filme ultrafino e foram significativamente mais baixos do que os valores para filmes de Nafion® recapados, em acordo com a natureza altamente condensada dos filmes de Nafion® LS.

Documentos Relacionados