Novo arranjo para determinar os coeficientes de emissão e a distribuição de energia dos elétrons secundários emitidos por sólidos / A new arragement determine the coefficients of the emission and the secondary electrons distribution emitted by solids

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

1996

RESUMO

Neste trabalho estudou-se um novo arranjo de medida para se obter a distribuição de energia dos elétrons secundários emitidos e os coeficientes de emissão por um sólido. Pelo fato deste arranjo permitir a medida direta do potencial de superfície no caso dos polímeros e da ddp de contato no caso dos metais, foi possível aplicar e descrever teoricamente o método de medida empregado para determinar o espectro energético dos secundários para a platina, Teflon-FEP, Mylar, PVDF- α, PVDF- β e polimero condutor. As cargas acumuladas durante a irradiação dos polímeros foram compensadas através do próprio feixe eletrônico. Este procedimento não é muito usual em relação aqueles aplicados na literatura e mostrou-se bastante eficaz. Pela primeira vez empregou-se o método dinâmico para determinar o coeficiente de emissão total em função da energia dos elétrons incidentes nos metais e verificou-se que estes resultados são idênticos aqueles obtidos pelo método do pulso. Um desdobramento natural ao aplicar o método dinâmico aos metais foram as medidas realizadas para camadas de ouro com espessura de 50 nm, 10 nm e 2,5 nm depositada sobre o Teflon-FEP, que deram origem ao modelo das duas camadas na interpretação dos resultados experimentais.

ASSUNTO(S)

coefficients of the emission distribuição de elétrons secundários secondary electrons distribution elétrons secundários secondary electrons coeficientes de emissão

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