Microstructure characterization of a duplex stainless steel weld by electron backscattering diffraction and orientation imaging microscopy techniques
AUTOR(ES)
Aguiar, Isabela Viegas, Escobar, Diana Pérez, Santos, Dagoberto Brandão, Modenesi, Paulo J.
FONTE
Matéria (Rio J.)
DATA DE PUBLICAÇÃO
2015-03
RESUMO
Este artigo descreve o uso da técnica de difração de elétrons retroespalhados (EBSD) para caracterizar a microestrutura (especialmente a sua morfologia e constituição) do metal base (MB), zona termicamente afetada (ZTA) e zona fundida (ZF) de um aço inoxidável "lean" duplex (AILD). Esta técnica fornece vantagens devido à sua simplicidade de uso e maior densidade de informação em comparação com a obtida por técnicas tradicionais de caracterização como as microscopias óptica (MO), eletrônica de varredura (MEV) e eletrônica de transmissão (MET). O uso de EBSD juntamente com microscopia de orientação de imagem (OIM) para compreender as diferentes transformações de fase ferrita-austenita é discutido. Medidas de microdureza Vickers foram feitas e não foi achada nenhuma diferença significativa entre as diferentes zonas. A função distribuição de orientação dos grãos (FDO) mostrou que na há mudanças significativas na textura cristalográfica nas amostras após a solda. As vantagens do uso de microscopia eletrônica de varredura juntamente com EBSD para analisar a microestrutura e o desenvolvimento da textura são também discutidas.
ASSUNTO(S)
aço inoxidável duplex soldagem textura ebsd mev
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