Medida de condutividade de semicondutores à baixa temperatura.

AUTOR(ES)

Erick Santana dos Santos

DATA DE PUBLICAÇÃO

2009

RESUMO

In this work, we performed the mounting of experimental equipment or measuring the conductivity at low temperature starting with the theoretical description involved, followed by the presentation of the equipment used and methods of measured. We show that the method used to measure the conductivity generally, the method of van der Pauw, presents difficulties when it comes to make the solder contacts on the samples, but satisfactory results are obtained with their use. With the characterization of tin oxide doped by fluorine (SnO2: F) we get results from a theoretical description developed, which were no found in measures of conductivity at low temperature. We also noticed that the existing theory is inadequate when it comes to semiconductors with high concentration of impurities.

ASSUNTO(S)

propriedades elétricas fisica semicondutores física do estado sólido

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