Desenvolvimento de um sistema de medição do indice de refração não linear

AUTOR(ES)

Alexandre Silva Duarte

DATA DE PUBLICAÇÃO

1993

RESUMO

Neste trabalho desenvolvemos um sistema de medição de índice de refração não linear n2, utilizando a técnica de varredura-Z. Com laser de Nd:YAG (l = 1.06mm). Medidas absolutas de n2 são possíveis com erro de ±10% entanto que, para medidas relativas, o erro é menor que ±0.5%. Mostramos que o alinhamento e calibração de todo sistema óptico e de medição, bem como um perfeito polimento da superfície da amostra são de importância fundamental para se conseguir medidas sensíveis, confiáveis e reprodutíveis. Fizemos medidas em vidros dopados com semicondutores (VDS) da Corning Glass ( CdSxSe1-x) e em (VDS) produzidos em nossos laboratórios (CdTe). Nos vidros da Corning obtivemos n2 de 3.7 a 6.1 X 10-15 cm2/W. Para as amostras de CdTe obtivemos n2 de 1.5 a 5.1 x10-14 cm2/W. Os grande valores de n2 observados nestes últimos são devidas a uma não linearidade ressonante de dois fótons

ASSUNTO(S)

semicondutores vidro refração

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