Caracterização de filmes finos de CdTe por meio de teoria de escala anômala / Characterization of CdTe thin films using anomalous scaling theory

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

2010

RESUMO

Filmes de telureto de cádmio crescidos sobre substratos de vidro recobertos com oxido de estanho dopado com flúor (TCO) foram estudados usando a teoria de escala dinâmica proposta por Lopez et al. [Phys. Rev. Lett. 84, 2199 (2000)]. As amostras foram crescidas por Ferreira et al. [Appl. Phys. Lett. 88, 244102 (2006)] usando a técnica de epitaxia por paredes quentes e as propriedades de escala da interface foram investigadas neste trabalho através do espectro de potência, da função de correlação de alturas e da espessura da interface. A teoria usada possui seis expoentes de escala, sendo quatro independentes. Entretanto, para classificar qual regime de crescimento o sistema obedece deve-se analisar três desses expoentes, a saber, α, αloc e αs relacionados com as flutuações globais, locais e do espectro de potência da interface, respectivamente. Os resultados mostram que o sistema estudado apresenta comportamento de escala anômalo caracterizado pelo expoente de rugosidade global diferente da rugosidade local. Mais precisamente, em acordo com a teoria usada, encontramos um regime de crescimento com interfaces facetadas caracterizadas por α loc = 1 e α ≠ α s >1. Essa previsão da teoria de escala anômala foi corroborada através de microscopia de força atômica das amostras. Conjecturamos que efeitos não-locais originados pela desordem inicial imposta pelo substrato amorfo são os fatores que originam o comportamento de escala anômalo.

ASSUNTO(S)

fisica da materia condensada leis de escala rugosidade anômala cdte scaling laws anomalous roughness cdte

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