Analise quimica e topografica da superficie de implantes de titanio comercialmente puro atraves de espectroscopia de fotoeletrons excitada por raios-X (XPS) e microscopia eletronica de varredura (MEV)

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

2003

RESUMO

Este trabalho teve como objetivo analisar, química e topograficamente, a superfície de implantes de titânio comercialmente puro, utilizados atualmente na Odontologia. Foram selecionados oito implantes das seguintes marcas comerciais: Conexão - Sistema de Próteses; Lifecore - Biomedical; AS Technology e S - Serson Internacional. As amostras apresentavam tratamento de superfície, através das técnicas de ataque ácido (Conexão) e plasma sprayde titânio (Lifecore-Biomedical; AS Technology e S - Serson International), sendo divididas em quatro grupos, contendo dois implantes do mesmo lote de cada fabricante. As análises foram realizadas através de Espectroscopia de Fotoelétrons Excitada por Raios-X (XPS) e Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV). Os resultados da análise química mostraram os elementos titânio (Ti), oxigênio (O), silício (Si), zinco (Zn), alumínio (AI) e carbono (C). O estudo através do MEV revelou a topografia rugosa da superfície e uniformidade entre as roscas dos implantes. Pode-se concluir, deste modo, que houve impurezas na superfície dos implantes, que todas as amostras apresentaram rugosidade de superfície, mas que há necessidade de outros trabalhos que relacionem a presença desses compostos e sua interferência na osseointegração

ASSUNTO(S)

titanio implantes dentarios endoosseos microscopia eletronica de varredura

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