Análise espectral de reflectarrays com substratos de duas camadas dielétricas anisotrópicas uniaxiais

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

2006

RESUMO

Os constantes avanços das telecomunicações tornam-se cada vez mais evidentes nas últimas décadas. As tecnologias de comunicações móveis e da indústria aeroespacial são um bom exemplo desta evolução. Isto ocorreu devido ao aumento do fluxo de dados a serem transmitidos. Para suprir essa demanda, novas tecnologias vêm surgindo na construção de antenas e na filtragem dos sinais de RF. Este trabalho apresenta uma análise de onda completa de estrutura de arranjos refletores (reflectarray). A estrutura analisada é composta por um arranjo de patches condutores retangulares depositados sobre um substrato com duas camadas de materiais iso/anisotrópicos, que por sua vez estão montadas sobre um plano de terra. A análise foi efetuada no domínio espectral, sendo utilizado o método da linha de transmissão equivalente em combinação com o método de Galerkin. Como resultado foram obtidos os coeficientes de reflexão (amplitude e fase) correspondentes para as estruturas analisadas. Para validação desses resultados foi realizada uma comparação com os resultados disponíveis na literatura. Especificamente, a análise desenvolvida usa a teoria de linha de transmissão em conjunto com os potenciais incidentes e com a imposição da continuidade dos campos nas interfaces de contorno, para a obtenção das expressões das componentes dos campos espalhados em função das densidades de corrente do patch e dos campos incidentes. O método de Galerkin é utilizado na determinação numérica dos coeficientes pesos desconhecidos. Desta forma, são determinados os coeficientes de reflexão (amplitude e fase) das estruturas consideradas

ASSUNTO(S)

propagação wave scattering propagation eletromagnetismo fss fss arranjo refletor engenharia eletrica electromagnetism

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