Análise da performance do algoritmo d / Performance analysis of D-algorithm

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DATA DE PUBLICAÇÃO

2010

RESUMO

A geração de testes para circuitos combinacionais com fan-outs recovergentes é um problema NP-completo. Com o rápido crescimento da complexidade dos circuitos fabricados, a geração de testes passou a ser um sério problema para a indústria de circuitos integrados. Muitos algoritmos de ATPG (Automatic Test Pattern Generation) baseados no algoritmo D, usam heurísticas para guiar o processo de tomada de decisão na propagação n e na justificação das constantes de forma a aumentar sua eficiencia. Existem heurísticas baseadas em medidas funcionais, estruturais e probabilísticas. Estas medidas são normalmente referidas como observabilidade e controlabilidade que fazem parte de um conceito mais geral, a testabilidade. As medidas que o algoritmo utiliza podem ser calculadas apenas uma vez, durante uma etapa de pré-processamento (medidas de testabilidade estáticas - STM's), ou dinamicamente, recalculando estas medidas durante o processamento sempre que elas forem necessárias (medidas de testabilidade dinâmicas — DTM's). Para alguns circuitos, o use de medidas dinâmicas ao invés de medidas estáticas diminui o número de backtrackings pcir vetor gerado. Apesar disto, o tempo total de CPU por vetor aumenta. Assim, as DTM's só devem ser utilizadas quando as STM's não apresentam uma boa performance. Isto pode ser feito utilizando-se as medidas estáticas ate um certo número de backtrackings. Se o padrão de teste não for encontrado, então medidas dinâmicas são utilizadas. Entretanto, a necessário ainda buscar formas de melhorar o processo dinâmico, diminuindo o custo computacional. A proposta original do calculo das DTM's apresenta algumas técnicas, baseadas em selective tracing, com o objetivo de reduzir o custo computacional. Este trabalho analisa o use combinado de heurísticas e propõe técnicas alternativas, na forma das heurísticas de recalculo parcial e recalculo de linhas não free, que visam minimizar o overhead do calculo das DTM's. E proposta ainda a técnica de Pré-implicação que transfere a complexidade do algoritmo para a memória. Isto é feito através de um preprocessamento que armazena informações necessárias para a geração de todos os vetores de teste. De outra forma estas informações teriam de ser calculadas na geração de cada um destes vetores. A implementação do algoritmo D com as várias heurísticas permitiu a realização de um experimento pratico. Isto possibilitou a análise quantitativa da performance do algoritmo D para vários tipos de circuitos e demonstrou a eficiência de uma das heurísticas propostas neste trabalho.

ASSUNTO(S)

sistemas digitais d-algorithm cad : sistemas digitais testability controllability algoritmo d observability testes : circuitos digitais test generation

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