AnÃlise da influÃncia da radiaÃÃo em circuitos eletrÃnicos.

AUTOR(ES)
DATA DE PUBLICAÇÃO

2006

RESUMO

Os computadores de bordo de satÃlites devem ser projetados para utilizaÃÃo em ambiente espacial. Entre as caracterÃsticas deste ambiente destaca-se a presenÃa de diferentes tipos de radiaÃÃo que podem alterar a operaÃÃo dos componentes do computador de bordo, causando desde falhas temporÃrias atà na perda total do satÃlite. Neste contexto, este trabalho apresenta uma anÃlise do comportamento de memÃrias SRAM quando submetidas a radiaÃÃo ionizante. Com esta finalidade foi desenvolvida uma plataforma composta por um sistema microprocessado que monitora em tempo real a ocorrÃncia de falhas em memÃrias. Foram realizados diversos testes nos quais memÃrias SRAM foram submetidas a diferentes doses de radiaÃÃo ionizante. As falhas detectadas incluem desde a mudanÃa temporÃria de bits atà a interrupÃÃo permanente do funcionamento da memÃria. Tais testes serviram para investigaÃÃo do comportamento das memÃrias SRAM quanto à tolerÃncia a ambientes espaciais com diferentes caracterÃsticas.

ASSUNTO(S)

memÃria de acesso aleatÃrio componentes de computadores anÃlise de falhas radiaÃÃo ionizante sistemas de computadores embarcados circuitos transmissÃo por satÃtites eletrÃnica digital

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