Testes Circuitos Integrados
Mostrando 1-12 de 41 artigos, teses e dissertações.
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1. Acelerômetro MEMS para navegação inercial
Esta tese apresenta o desenvolvimento de um acelerômetro MEMS para navegação inercial. O projeto teve que aderir e superar as fortes limitações do serviço de fabricação multi-usuário e dos escassos recursos de pós-processamento disponíveis. O elemento sensível usa a topologia de placas paralelas com realimentação de força. A deflexão da massa
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 01/12/2011
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2. SKMotes: um Kernel semipreemptivo para nÃs de redes de sensores sem fio
Redes de sensores sem Fio (RSSFs) sÃo fruto dos recentes avanÃos nas tecnologias de sistemas micro-eletro-mecÃnicos, circuitos integrados de baixa potÃncia e comunicaÃÃo sem fio de baixa potÃncia. Estes avanÃos permitiram a criaÃÃo de minÃsculos dispositivos computacionais de baixo custo e baixa potÃncia, capazes de monitorar grandezas fÃsicas d
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 07/10/2011
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3. Estudo dos efeitos de dose total ionizante (TID) de radiação gama num regulador de tensão de topologia Buck
Componentes eletrônicos, quando empregados em veículos espaciais, estão sujeitos a condições ambientais adversas, dentre elas a contínua exposição à radiação ionizante proveniente dos ciclos solares e de origem cósmica. Os componentes genuinamente fabricados para esta finalidade são aqueles que possuem a propriedade de resistência a dose acumul
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 12/08/2011
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4. Designing fault-tolerant techniques for SRAM-Based FPGAs
Publicado em: 2011
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5. Interfaces parametrizáveis para aplicações interconectadas por uma rede-em-chip / Configurable interfaces for applications interconnected by a network-on-chip
As redes-em-chip (NoCs) surgiram como uma alternativa aos atuais problemas de interconexão decorrentes da redução da escala de tecnologia de fabricação de circuitos integrados. O desenvolvimento de transistores com nanômetros de largura tem permitido a inserção de sistemas altamente complexos em uma única pastilha de silício. Dessa forma, os SoCs (
Publicado em: 2011
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6. Sistema integrado para caracterização automática de conversores analógico-digitais / Integrated system for automated characterization of analog-digital converters
Este trabalho descreve um sistema constituído de diversos instrumentos, que se encontram interligados e gerenciados por um aplicativo de software, implementando um ambiente compacto para a caracterização de conversores analógico-digitais, de acordo com os procedimentos descritos nas normas IEEE 1057-1994 e IEEE 1241-2000. O sistema desenvolvido possui li
IBICT - Instituto Brasileiro de Informação em Ciência e Tecnologia. Publicado em: 31/05/2010
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7. Verificação de equivalência combinacional utilizando hiper-resolução binária
A capacidade de integrar cada vez mais componentes dentro de circuitos integrados tem dobrado a aproximadamente cada 18 meses desde meados de 1960, com previsões de continuar neste ritmo até 2050. Esta crescente complexidade de dispositivos computacionais leva a indústria de circuitos integrados a investir mais de 50% do tempo de desenvolvimento na etapa
Publicado em: 2010
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8. Validação de protótipo e análise de falhas no teste com feixe de elétrons : um estudo visando a sua automação
O trabalho aqui apresentado descreve algumas pesquisas em teste de circuitos integrados. Estas pesquisas consistem, por um lado, na análise de falhas e por outro, na validação de protótipos, ambas fazendo uso de técnicas de teste com feixe de elétrons. A primeira parte deste trabalho apresenta uma revisão dos princípios do teste com feixe de elétron
Publicado em: 2010
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9. KL-cuts : a new approach for logic synthesis targeting multiple output blocks / KL-Cuts: uma nova abordagem para síntese lógica utilizando blocos com múltiplas saídas
Esta dissertação introduz o conceito de cortes KL, o que permite controlar tanto o número K de entradas como o número L de saídas em uma região de um circuito. O projeto de um circuito digital pode ser dividido em duas fases: síntese lógica e síntese física. Dentro de síntese lógica, um dos principais passos é o mapeamento tecnológico. Tradicio
Publicado em: 2010
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10. Análise da performance do algoritmo d / Performance analysis of D-algorithm
A geração de testes para circuitos combinacionais com fan-outs recovergentes é um problema NP-completo. Com o rápido crescimento da complexidade dos circuitos fabricados, a geração de testes passou a ser um sério problema para a indústria de circuitos integrados. Muitos algoritmos de ATPG (Automatic Test Pattern Generation) baseados no algoritmo D, u
Publicado em: 2010
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11. Métodos de teste de redes-em-chip (NoCs)
Este trabalho tem como objetivo estudar e propor métodos de teste funcional visando a detecção e localização de falhas na infra-estrutura das redes-em-chip. Para isso, o trabalho apresenta, inicialmente, uma descrição das principais características das redes-em-chip, explicando o que elas são e para que elas servem. Em seguida são apresentados conc
Publicado em: 2010
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12. SGC : um ambiente para a automação de procedimentos de caracterização e teste
Este trabalho trata de ambientes de software para a realização de teste e caracterização de dispositivos, componentes ou circuitos eletro-eletrônicos, de forma automatizada. Ênfase especial é dada à problemática relacionada ao teste e caracterização automatizados de dispositivos e circuitos integrados. O assunto é tratado sob dois pontos de vista
Publicado em: 2010